技術(shù)文章
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技術(shù)文章
2018-413
直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學的分析原理,樣品經(jīng)過電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽,蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜,發(fā)射光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段,根據(jù)每個元素發(fā)射波長范圍。通過光電管測量每個元素的*譜線,每種元素發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過內(nèi)部預(yù)制校正曲線可以測定含量,直接以百分比濃度顯示。直讀光譜儀的常見故障及解決方法:1、直讀光譜儀排氣不暢故障,氬氣排氣管路堵塞,火花室下部的彎頭內(nèi)有異物,氬氣過濾器入口端有異物。處理辦法:更換排氣管,...
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2018-413
Vision系列LED顯示屏校正系統(tǒng)是一個LED顯示屏制造商和用戶顯著改善LED屏色彩和亮度均勻性的解決方案。該系統(tǒng)適用于多種場合校正要求:LED顯示屏制造業(yè)領(lǐng)域的LED模塊和屏幕校正;LED顯示屏使用領(lǐng)域的LED室內(nèi)和室外屏幕校正;LED顯示屏的重新校準和性能的改善。VisionCAL—LED顯示屏的色度和亮度逐點校正系統(tǒng)VisionCAL系統(tǒng)使用一架PM系列影像色度計測量LED模塊或屏幕中每一顆LED的色度和亮度。在此測量基礎(chǔ)上,VisionCAL應(yīng)用軟件計算優(yōu)化每個LE...
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2018-413
2018-413
在半導(dǎo)體制造過程中,前期的全自動晶圓缺陷檢測技術(shù)非常重要。因為在后端的生產(chǎn)流程中,通常會有多片晶圓粘合到一起,或者把晶圓粘合到不透明的材料上。因為半導(dǎo)體材料對可見光都是不透明的,所以很難用可見圖像技術(shù)對粘合效果做表征或者檢測粘合表面的污染。比如MEMS的分選就是典型的應(yīng)用。MEMS是把微型機械部件、微型傳感器、微電路集成到一個芯片上;為確保MEMS的運作,對其進行缺陷檢測是至關(guān)重要的,但很多機械性能無法通過電氣或功能測試來確定。因為這些缺陷往往位于基板上或器件與封蓋晶圓之間連...
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2018-413
半導(dǎo)體器件和電路制造技術(shù)飛速發(fā)展,器件特征尺寸不斷下降,而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機理的分析帶來巨大的挑戰(zhàn)。對于半導(dǎo)體失效分析(FA)而言,微光顯微鏡(EmissionMicroscope,EMMI)是一種相當有用且效率高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測能力,可偵測到半導(dǎo)體組件中電子-電洞對再結(jié)合時所發(fā)射出來的光線,能偵測到的波長約在350nm~1100nm左右。它可以廣泛的應(yīng)用于偵測IC中各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流,如:Gateoxided...
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