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Ophir高功率激光功率計快門保護罩介紹

針對激光加工過程中普遍存在的材料碎屑對功率測量探頭污染與損壞，影響其使用壽命和測量精度的情況，Ophir專門設計了保護5000W和10KW探頭的帶有shutter的保護罩，以保護您昂貴的功率探頭免受污染。這種保護裝置可以有效的保護探頭表面的吸收層免受加工材料碎片的污染和損壞。保護罩可以在電磁操控下，隨時開啟和關閉快門。保護罩需要通過探頭前邊的法蘭和探頭連接在一起。型號5000W、10KW帶有Shutter的保護罩（a）使用保護探頭免受加工過程材料碎屑的污染支持探頭5000W和...

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FPD在線光譜式測試應用特點

光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了zui高精度的亮度、色度測量。現有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。PhotoResearch的A-TAKT™系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對FPD產線測試不同測試應用。具有如下總的特點：特點優勢采用制冷型CCD探測器有效抑制暗噪聲及雜散光；可調取、使用測試對象的圖像，不...

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Andorx射線探測方案

直接和間接探測針對不同的x射線應用，不管是影像，還是光譜，Andor都可以提供全面的CCD探測系統。根據應用和能量不同，這些系統可以放置在真空內使用，或者通過法蘭和真空腔相連，也可以是單獨使用。另外，如果您的應用需要對x射線進行間接探測，Andor也可以提供各種光纖耦合的CCD相機.Andorx射線探測方案有益于如下各種應用：X射線/中子斷層掃描X射線光譜X射線顯微X射線光斑檢測X射線衍射X射線平板印刷術X射線地形學等離子體研究醫療影像湯姆森散射X射線可以大致可以分為幾個范圍...

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THz成像技術介紹

THz成像技術是THz技術發展的重要方向之一，在國防、安檢、材料、生物和醫療領域都有著重大意義。目前THz成像技術主要分為：掃描成像和THz面陣探測器直接成像，但是這兩種方式都面臨著重大的技術挑戰。首先，THz掃面成像，這種方式多應用在時域光譜領域中，掃面成像需要的時間較長，無法實時成像，且隨著空間分辨率的提高及掃描面積的加大，所需要的時間越長，使得這種方式的發展在很多應用中受到限制，如國防、安檢、生物醫療等；另該方式產生的THz輻射較弱，相應的穿透力較弱，且由于水對于THz...

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X射線熒光光譜儀整體配套方案

X-射線熒光光譜：作為一種比較分析技術，在較嚴格的條件下用一束X射線或低能光線照射樣品材料，致使樣品發射特征X射線。這些特征X射線的能量對應于各特定元素，樣品中元素的濃度直接決定射線的強度。該發射特征X射線的過程稱為X射線熒光或XRF.X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）一臺典型的XRF儀器的核心硬件包括X射線源與X射線探測器及多通道數字脈沖處理器。其中X射線源是提供激發樣品特征X射線的光源，X射線探測器檢測X射線光子的裝置，...

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